发明名称 在透明基板中计量缺陷之方法
摘要
申请公布号 TWI442048 申请公布日期 2014.06.21
申请号 TW097106551 申请日期 2008.02.25
申请人 康宁公司 美国 发明人 凯司米薛耳希尔;蓝迪拉鲁麦克鲁;理查沈匹师里
分类号 G01N21/896 主分类号 G01N21/896
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项
地址 美国