发明名称 PROCEDE DE GENERATION D'UNE TOPOGRAPHIE D'UN CIRCUIT INTEGRE FDSOI
摘要 <p>L'invention concerne un procédé de génération d'une topographie numérique de circuit intégré, comprenant les étapes de : -placement automatique des cellules standard dans au moins une rangée de la topographie, lesdites cellules comprenant au moins : -une première cellule comprenant un transistor nMOS (1n) ménagé à l'aplomb d'un caisson (11 2n) à dopage de type P, et comprenant un transistor pMOS (1p) ménagé à l'aplomb d'un caisson (112p) à dopage de type N, le caisson de type P et le caisson de type N étant disposés de part et d'autre d'un axe; et -une deuxième cellule incluant une diode, un caisson à dopage de type P et comportant un caisson à dopage de type N, la deuxième cellule comportant un élément de connexion métallique inférieur couplé à son caisson à dopage de type P.</p>
申请公布号 FR2999746(A1) 申请公布日期 2014.06.20
申请号 FR20120061980 申请日期 2012.12.13
申请人 COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIESALTERNATIVES;STMICROELECTRONICS SA 发明人 GIRAUD BASTIEN;FLATRESSE PHILIPPE;LE BOULAIRE MATTHIEU;NOEL JEAN-PHILIPPE
分类号 G06F17/50;H01L21/027;H01L27/105 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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