发明名称 通用型测试板
摘要 本发明提供一种通用型测试板。所述通用型测试板至少包括:具有第一表面及第二表面的板体,其中,在所述第一表面设置有与测试机台对接的第一对接件;在所述第二表面设置有与至少一种第一封装类型的待测芯片对接的第二对接件以及用于与转换板对接的扩展对接件,且所述第一对接件分别与第二对接件及扩展对接件电气连接。本发明的优点包括:无需更换板体即可对不同封装类型的芯片的性能进行测试,有效降低芯片的测试成本,提高了企业经济效益。
申请公布号 CN103869105A 申请公布日期 2014.06.18
申请号 CN201210532534.X 申请日期 2012.12.11
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 唐会成
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种通用型测试板,其特征在于,所述通用型测试板至少包括:具有第一表面及第二表面的板体,其中,在所述第一表面设置有与测试机台对接的第一对接件;在所述第二表面设置有与至少一种第一封装类型的待测芯片对接的第二对接件以及用于与转换板对接的扩展对接件,且所述第一对接件分别与第二对接件及扩展对接件电气连接。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号