发明名称 | 光学器件、检测装置、电子设备及光学器件的制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种能够形成规定物质的捕捉空间、进一步提高检测灵敏度的光学器件、检测装置、电子设备以及光学器件的制造方法。光学器件(10)具有:具有电介质层(16)和多个金属粒子(18)的基板(12),以及自组装形成于电介质层以及金属粒子的至少一方的表面的有机分子层(30)。有机分子层(30)中,第一有机分子(40B)和第二有机分子(42A)在第一方向交替配置,第一有机分子(40B)的有机基团的链长r1与第二有机分子(42A)的有机基团的链长r2彼此不同。 | ||
申请公布号 | CN103868905A | 申请公布日期 | 2014.06.18 |
申请号 | CN201310670675.2 | 申请日期 | 2013.12.10 |
申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 山田明子;山田耕平 |
分类号 | G01N21/65(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
主权项 | 一种光学器件,其特征在于,具有:基板,所述基板具有电介质层和金属粒子;以及有机分子层,所述有机分子层自组装形成于所述电介质层以及所述金属粒子的至少一方的表面,所述有机分子层中,第一有机分子和第二有机分子在第一方向交替配置,所述第一有机分子的有机基团的链长和所述第二有机分子的有机基团的链长彼此不同。 | ||
地址 | 日本东京 |