| 发明名称 | 用于光学数据存储器的检测增强的方法和系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于光学数据存储器的检测增强的方法和系统。本技术包括调节检测器(70)或多像素检测器(70)的位置，以使与微全息图(60)或微反射体对应的反射(18)得以增强。例如，可将检测器位置调节至表面反射(66)和微全息图反射(18)相长地干涉的位置，其产生放大的微全息图反射信号(122)。可调节其它参数(诸如盘反射率和检测器针孔(88)大小)来增加信号增强。此外，可将检测器位置调节到表面反射(66)和微全息图(18)反射的相位产生较弱的交叉项(104)的位置。 | ||
| 申请公布号 | CN101783156B | 申请公布日期 | 2014.06.18 |
| 申请号 | CN200911000038.4 | 申请日期 | 2009.12.16 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | J·A·F·罗斯;X·施 |
| 分类号 | G11B20/18(2006.01)I;G11B7/004(2006.01)I | 主分类号 | G11B20/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 王岳;李家麟 |
| 主权项 | 一种用于从光盘(12)读取数据的方法，包括：向光盘(12)的表面(64)发射电磁辐射束(16)；用检测器(70)检测从光盘(12)反射的电磁辐射(82)，其中反射的电磁辐射(82)包括：来自表面(64)的反射(66)；和来自光盘(12)内的微反射体(60)的反射(18)；以及调节检测器(70)，以增强对来自微反射体(60)的反射(18)的检测；其中，调节检测器(70)包括将检测器(70)调节到下述位置，在所述位置处，来自表面(64)的反射(66)的相位与来自微反射体(60)的反射(18)的相位基本相同。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||