一种用于电阻抗映射成像的感兴趣目标体立体定位方法

摘要

本发明公开了一种用于电阻抗映射成像的感兴趣目标体立体定位方法，该方法在实施时首先基于电磁场计算模型计算分析，建立感兴趣目标体深度近似求解公式；其次在电阻抗映射成像实际测量中，根据灰度图像确定感兴趣目标体的二维空间位置；在此基础上进一步建立利用电阻抗映射检测成像实测数据等效表征深度求解公式中计算参数的方法，并最终求解获得感兴趣目标体的立体定位信息。本发明的特点是在分析二维灰度图像特征的基础上，通过深入挖掘检测信息，可对感兴趣目标体的深度进行测算，实现了对感兴趣目标体的立体定位。

主权项

1.一种用于电阻抗映射成像的感兴趣目标体立体定位估测方法，其特征在于，包括以下步骤：1）基于电磁场计算模型计算分析，建立感兴趣目标体深度近似求解公式；2）在电阻抗映射成像实际测量中，根据灰度图像确定感兴趣目标体的二维空间位置；3）建立电阻抗映射成像实际测量数值与感兴趣目标体深度近似求解公式中参数的对应关系；4）将感兴趣目标体的空间二维信息与目标体的深度信息结合，获得感兴趣目标体的空间立体定位参数；所述的感兴趣目标体深度近似求解公式如下：$\frac{|i(a,b)-i^0(a,b)|}{|i(x_0,y_0)-i^0(x_0,y_0)|}=\frac{|2-\frac{d^2}{{z_0}^2}|}{2{(\frac{d^2}{{z_0}^2}+1)}^{5/2}}$    公式（6）其中i(x₀,y₀)是感兴趣目标体在检测电极面上投影区中心位置的测量值其电极坐标为（x₀,y₀），i⁰(x₀,y₀)是感兴趣目标体不存在时对应于电极坐标（x₀,y₀）处的测量值，i(a,b)感兴趣目标体在检测电极面上投影区中心位置外任意坐标（a,b）处的测量值,i⁰(a,b)是感兴趣目标体不存在时对应于电极坐标（a,b）处的测量值；d为(a,b)到(x₀,y₀)的距离，则$d=\sqrt{{(x_0-a)}^2+{(y_0-b)}^2};$z₀表示感兴趣目标体深度；进一步根据公式（6），用I_max替代i(x₀,y₀)，用I_half替代i(a,b)，用I_mean替代i⁰(x₀,y₀)和i⁰(a,b)，可以获得感兴趣目标体的深度估测值，进一步结合二维灰度图中的平面坐标信息，可以对感兴趣目标体进行空间定位；其中，I_mean为感兴趣目标体在检测电极平面投影区域以外的所有测量值的平均值，I_max为感兴趣目标体所对应的最大测量值，I_half为感兴趣目标体在检测电极平面投影区域内实测数据曲线的半峰值。