发明名称 一种绝缘栅双极型晶体管及其制作方法
摘要 本发明公开了一种IGBT及其制作方法,所述方法包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成正面结构和背面结构,所述正面结构包括栅极结构;在栅极结构以外的区域形成均匀分布的杂质缺陷。本发明所述技术方案仅在IGBT的栅极结构以外的区域形成分布均匀的杂质缺陷,一方面,避免了由于栅极结构存在杂质缺陷导致IGBT的阈值降低,从而避免了IGBT易受外界信号干扰的问题;另一方面,避免了由于栅极结构存在杂质缺陷导致的IGBT的漏电流增大,从而避免了由于漏电流增大导致的器件易烧坏、寿命短的问题。
申请公布号 CN103871877A 申请公布日期 2014.06.18
申请号 CN201210526416.8 申请日期 2012.12.07
申请人 上海联星电子有限公司;中国科学院微电子研究所;江苏中科君芯科技有限公司 发明人 吴振兴;朱阳军;谈景飞;胡爱斌;喻巧群;陈宏;赵佳;陆江;田晓丽
分类号 H01L21/331(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L21/331(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 王宝筠
主权项 一种IGBT的制作方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成正面结构和背面结构,所述正面结构包括栅极结构;在栅极结构以外的区域形成均匀分布的杂质缺陷。
地址 200120 上海市浦东新区金桥路939号宏南投资大厦1513室