发明名称 |
一种绝缘栅双极型晶体管及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种IGBT及其制作方法,所述方法包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成正面结构和背面结构,所述正面结构包括栅极结构;在栅极结构以外的区域形成均匀分布的杂质缺陷。本发明所述技术方案仅在IGBT的栅极结构以外的区域形成分布均匀的杂质缺陷,一方面,避免了由于栅极结构存在杂质缺陷导致IGBT的阈值降低,从而避免了IGBT易受外界信号干扰的问题;另一方面,避免了由于栅极结构存在杂质缺陷导致的IGBT的漏电流增大,从而避免了由于漏电流增大导致的器件易烧坏、寿命短的问题。 |
申请公布号 |
CN103871877A |
申请公布日期 |
2014.06.18 |
申请号 |
CN201210526416.8 |
申请日期 |
2012.12.07 |
申请人 |
上海联星电子有限公司;中国科学院微电子研究所;江苏中科君芯科技有限公司 |
发明人 |
吴振兴;朱阳军;谈景飞;胡爱斌;喻巧群;陈宏;赵佳;陆江;田晓丽 |
分类号 |
H01L21/331(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/331(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王宝筠 |
主权项 |
一种IGBT的制作方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底;在所述半导体衬底上形成正面结构和背面结构,所述正面结构包括栅极结构;在栅极结构以外的区域形成均匀分布的杂质缺陷。 |
地址 |
200120 上海市浦东新区金桥路939号宏南投资大厦1513室 |