断层扫描量测系统的校正方法及校正设备

摘要

一种断层扫描量测系统的校正方法，包括以下步骤：第一步：提供一量测系统，所述量测系统为CT或AXI量测系统；第二步：提供一金属的圆台，所述圆台的上端面直径d、下端面直径D及圆台的高度H为已知；第三步：利用CT或AXI量测系统通过断层扫描测出所述圆台其它部位截圆的直径d’；第四步：根据圆台的直径与高度呈线性的比例关系，所述量测系统设定有∮d’=（∮D+∮d）×h/H的计算程序，通过所述程序计算出截圆直径为d’处所对应的高度h；第五步：进一步扫描出多处截圆直径，并计算出该等截圆处对应的圆台的高度，确认所述断层扫描量测系统的线性值。藉此，使得断层扫描量测系统的量取精度更精准。

主权项

一种断层扫描量测系统的校正方法，包括以下步骤：（1）提供一量测系统，所述量测系统为CT或AXI量测系统；（2）提供一金属的圆台，所述圆台的上端面直径d、下端面直径D及圆台的高度H为已知；（3）利用CT或AXI量测系统通过断层扫描测出所述圆台其它部位截圆的直径d’；（4）根据圆台的直径与高度呈线性的比例关系，所述量测系统设定有∮d’=（∮D+∮d）×h/H的计算程序，通过所述程序计算出截圆直径为d’处所对应的高度h；（5）进一步扫描出多处截圆直径，并计算出该等截圆处对应的圆台的高度，确认所述断层扫描量测系统的线性值。