发明名称 Gezielte Analyse für Tandem-Massenspektrometrie
摘要 <p>Ein Tandem-Massenspektrometer und ein Verfahren sind beschrieben. Vorläuferionen werden in einer Ionenquelle (10) erzeugt und ein Ioneninjektor (21, 23) injiziert Ionen zu einer stromabwärts befindlichen Ionenführung (50, 60) über eine TOF-Vorrichtung (30) mit einfacher oder mehrfacher Reflexion, die Ionen in Übereinstimmung mit ihrem m/z in Pakete trennt. Ein Ionentor (40) mit einmaligem Durchlass in dem Weg der Vorläuferionen zwischen dem Ioneninjektor (21, 23) und der Ionenführung (50, 60) wird derart gesteuert, dass nur eine Untermenge von Vorläuferionenpaketen, die Vorläuferionen von Interesse enthalten, zu der Ionenführung (50, 60) weitergeleitet werden können. Ein hochauflösendes Massenspektrometer (70) ist zur Analyse dieser Ionen oder ihrer Fragmente bereitgestellt, die die durch das Ionentor (40) hindurch gelassen wurden. Die Technik ermöglicht, dass mehrere m/z-Bereiche aus einem breiten Massenbereich von Vorläufern mit optionaler Fragmentierung einer oder mehrerer der gewählten Ionenspezies ausgewählt werden können.</p>
申请公布号 DE112012002568(T5) 申请公布日期 2014.06.18
申请号 DE20121102568T 申请日期 2012.06.19
申请人 THERMO FISHER SCIENTIFIC (BREMEN) GMBH 发明人
分类号 H01J49/00;H01J49/06;H01J49/40 主分类号 H01J49/00
代理机构 代理人
主权项
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