发明名称 一种真空紫外激光线宽的测量装置和方法
摘要 本发明提供一种真空紫外激光线宽的测量装置和方法,其中:真空腔系统包括腔体和入射窗口,光束准直系统、干涉元件和探测元件均置于所述腔体内;所述入射窗口用于入射真空紫外激光;光束准直系统用于对入射的真空紫外激光进行准直;所述干涉元件为楔形劈尖,用于将准直后的真空紫外激光反射形成两束相干光束,在探测元件表面产生干涉条纹;所述探测元件用于采集所述干涉条纹的信息;数据处理系统用于采集和处理所述探测元件获得的干涉条纹的信息,得到所述真空紫外激光的线宽。本发明解决了现有技术中对于波长小于185nm的真空紫外激光无法直接测量线宽的技术问题,光学结构简单,性能稳定,对连续、准连续和脉冲真空紫外激光均可实时测量。
申请公布号 CN103868603A 申请公布日期 2014.06.18
申请号 CN201410054932.4 申请日期 2014.02.18
申请人 中国科学院理化技术研究所 发明人 宗楠;赵巍;许祖彦;彭钦军;张申金;杨峰;王志敏;张丰丰
分类号 G01J9/02(2006.01)I 主分类号 G01J9/02(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 李迪
主权项 一种真空紫外激光线宽的测量装置,其特征在于,包括:真空腔系统、光束准直系统、干涉元件、探测元件和数据处理系统;所述真空腔系统包括腔体和入射窗口,所述腔体内为真空或充满对真空紫外激光吸收较低的气体,用于防止真空紫外激光被吸收,所述光束准直系统、干涉元件和探测元件均置于所述腔体内;所述入射窗口位于所述腔体的腔壁上,用于入射真空紫外激光;所述光束准直系统用于对入射的真空紫外激光进行准直;所述干涉元件为楔形劈尖,用于将准直后的真空紫外激光反射形成两束相干光束,在所述探测元件表面产生干涉条纹;所述探测元件为真空紫外波段可用的探测器,用于采集所述干涉条纹的信息;所述数据处理系统在所述腔体外,与所述探测元件相连,用于采集和处理所述探测元件获得的干涉条纹的信息,得到所述真空紫外激光的线宽。
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