一种位移传感器的检测电路

摘要

本实用新型涉及一种位移传感器的检测电路，包括激励线圈，采集线圈，还包括电源电路至少具有第一芯片与第六芯片，用于为电路供电；激励信号产生电路，包括第二芯片与第三芯片，用于产生激励信号，所述激励信号加载在激励线圈的两端；运放电路，包括第一运算放大器与第二运算放大器，用于放大第一采集线圈和第二采集线圈；CPU电路，所述CPU电路包括第四芯片，用于处理信号；输出电路，包括第五芯片，用于TTL信号的输出。本实用新型提供的检测电路，可以令测量更精准，稳定性高，不受外部环境影响。

主权项

一种位移传感器的检测电路，所述位移传感器电路包括线圈，其特征在于：所述线圈包括激励线圈，采集线圈；其中采集线圈包括第一采集线圈和第二采集线圈；还包括： 电源电路，至少具有第一芯片与第六芯片，用于为电路供电； 激励信号产生电路，包括第二芯片，第三芯片与激励线圈连接，用于产生激励信号，所述激励信号加载在所述激励线圈的两端； 运放电路，包括第一运算放大器与第二运算放大器，用于放大第一采集线圈和第二采集线圈； CPU电路，所述CPU电路包括第四芯片，用于处理信号； 输出电路，包括第五芯片，用于TTL信号的输出； 所述的第一芯片为LM1117MPX‑33，第二芯片为LTC1563‑2，第三芯片为TLV4120，第四芯片为STM32F415RGT6，第五芯片为AM26LV31EIPW，第六芯片为TL431AIDBZR； 所述电源电路还包括第一电感在第一电容与第二电容之间，所述第一电感与第一芯片相连，所述第一芯片还与第一电阻及第三电容连接；所述第一电感还与第二电阻连接，所述第二电阻与第三电阻并联，所述第二电阻与第四电阻串联；所述第二电阻还与第六芯片连接，所述第六芯片与第五电阻，第六电阻并联，所述第五电阻与第六电阻互相串联，并与第四电容并联。 所述激励产生电路还包括第五电容接地，所述第二芯片与第七电阻，第八电阻，第九电阻串联，所述第七电阻，第八电阻并联，所述第二芯片还与第六电容连接，所述第二芯片还与第十电阻，第十一电阻串联，与第十二电阻串联；所述激励产生电路还包括第三芯片，所述第三芯片第二引脚与第十三电阻连接，所述第三芯片第三引脚与第七电容连接，所述第三芯片第四引脚与第十四电阻，第八电容，第十五电阻，第十六电阻连接，所述第十四电阻，第八电容，第十五电阻，第十六电阻串联。 所述CPU电路包括第四芯片，与电源电路，激励产生电路，运放电路和输出电路连接，还与第十四电容，第十五电容连接的晶振连接，并包括一USB电路，所述USB电路由一三极管接入电压，经由第二十六电阻接入CPU电路，所述三极管与第二十九电阻并联，并通过串联第二十七电阻与第二十八电阻接USB，所述USB还由第三十电阻，第三十一电阻接入CPU电路，并由第三十二电阻接通电源。