一种准完全最大距离随机测试方法

摘要

本发明涉及一种准完全最大距离随机测试方法。其测试步骤如下：从文本中读取电路的初级输入数n，指定初始种子n位二进制码t₀，期望生成测试码数量2m；根据初级输入数n，生成符合最大总笛卡尔距离的下标奇数测试码集合；在获得下标奇数测试码集合的基础上，根据最大海明距离的规则，进一步获得下标偶数测试码集合，形成中间测试集；中间测试集与指定测试种子t₀作异或运算，获得最终完整测试集。本发明的目的在于解决现阶段电路规模急剧增大，集成电路快速发展的条件下，现有的随机测试算法不足以存在过多冗余测试码，为达到理想的故障覆盖率需要巨大的资源开销以及时间开销的问题。本发明的特点在于提高测试效率的同时提高故障覆盖率。

主权项

一种准完全最大距离随机测试方法，其特征在于：测试步骤如下：       步骤1，从文本中读取电路的初级输入数n，指定初始种子n位二进制码的指定测试种子t₀，期望生成测试码数量2m；步骤2，根据初级输入数n，生成符合最大总笛卡尔距离的下标奇数测试码集合；步骤3，在获得下标奇数测试码集合的基础上，根据最大海明距离的规则，进一步获得下标偶数测试码集合，形成中间测试集； 步骤4，中间测试集与指定测试种子t₀作异或运算，获得最终完整测试集。