发明名称 | 离子注入层载流子浓度测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种离子注入层载流子浓度测试方法。该方法包括步骤1,将样片固定到样片架上,对样片进行霍尔测试,获取样片的霍尔数据;步骤2,将样片从样片架上取下,进行离子注入、退火、以及清洗操作,测量样片的厚度,并重新将样片固定到样片架上并进行霍尔测试,获取相应的霍尔数据;步骤3,将样片从样片架上取下并清洗后,进行样片背面减薄工艺,取下样片,测量样片的厚度,并重新将样片固定到样片架上并进行霍尔测试,获取相应的霍尔数据;步骤4,重复步骤3,汇总霍尔数据和对应的样片厚度,获取霍尔数据随样片厚度的变化关系,根据变化关系确定样片的离子注入层载流子浓度。 | ||
申请公布号 | CN103868952A | 申请公布日期 | 2014.06.18 |
申请号 | CN201410068932.X | 申请日期 | 2014.02.27 |
申请人 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 发明人 | 李海燕;亢喆;程鹏 |
分类号 | G01N27/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/00(2006.01)I |
代理机构 | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人 | 秦莹 |
主权项 | 一种离子注入层载流子浓度测试方法,其特征在于,包括:步骤1,将样片固定到样片架上,对所述样片进行霍尔测试,获取所述样片的霍尔数据;步骤2,将所述样片从所述样片架上取下,进行离子注入、退火、以及清洗操作,测量所述样片的厚度,并重新将所述样片固定到所述样片架上并进行霍尔测试,获取相应的霍尔数据;步骤3,将所述样片从所述样片架上取下并清洗后,进行样片背面减薄工艺,取下样片,测量所述样片的厚度,并重新将所述样片固定到所述样片架上并进行霍尔测试,获取相应的霍尔数据;步骤4,重复步骤3,汇总霍尔数据和对应的样片厚度,获取霍尔数据随所述样片厚度的变化关系,根据所述变化关系确定所述样片的离子注入层载流子浓度。 | ||
地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路4号 |