| 摘要 |
Anordnung bestehend aus einer Gesamtschaltung (8) mit Ein- und Ausgängen (9);–wobei die Gesamtschaltung eine eingebettete Schaltung (1) besitzt, welche nicht direkt mit den Ein- und Ausgängen (9) verbunden ist oder durch spezielle Schaltungen verbindbar ist;–wobei Schaltelemente (3, 3') und mit ihnen verbundene Testinseln (2, 2', 10) vorhanden und so schaltbar sind, dass in einem Testfall ein Eingang (4) der eingebetteten Schaltung (1) mit einer ersten (2) der Testinseln und ein Ausgang (6) der eingebetteten Schaltung (1) mit einer zweiten (2') der Testinseln über das jeweilige Schaltelement (3, 3') verbunden werden kann;–wobei die Schaltelemente (3, 3') nur im Testfall durch Anlegen einer Spannung an einer dritten (10) der Testinseln (2, 2', 10) in einen Testmodus geschaltet werden können;–und wobei die Testinseln (2, 2', 10) komplett innerhalb der Fläche der eingebetteten Schaltung (1) liegen und nur durch eine oberste, im technologischen Prozess vorhandene Metallschicht ausgebildet sind. |
