发明名称 绝对位置测量装置
摘要 本发明涉及一种绝对位置测量装置,该装置的光源发出的平行光将编码单元的位置编码信号投影在光探测器上;光探测器的线阵A和线阵B同时扫描编码单元的同一组位置编码信号;线阵A获得的A路位置编码信号由信号处理单元的A路信号采集模块采集,再由A路位置译码模块进行位置译码并判断译码结果是否正确;线阵B获得的B路位置编码信号由信号处理单元的B路信号采集模块采集,再由B路位置译码模块进行位置译码并判断译码结果是否正确;位置码校验模块对A路和B路译码结果进行校验,如果二者都正确或者只有A路正确,取A路译码结果为最终位置数据;只有B路正确,取B路译码结果为最终位置数据。本发明位置测量可靠性高。
申请公布号 CN102607417B 申请公布日期 2014.06.18
申请号 CN201210088517.1 申请日期 2012.03.30
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 吴宏圣;孙强;张吉鹏;续志军;李贺军
分类号 G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 王淑秋
主权项 一种绝对位置测量装置,包括编码单元和扫描单元;所述扫描单元与编码单元沿测量方向可产生相对运动;扫描单元由光源、光探测器(4)和信号处理单元(5)组成;光源发出的平行光将编码单元的位置编码信号投影在光探测器(4)上;其特征在于所述光探测器(4)为双线阵光探测器,包括线阵A和线阵B;线阵A和线阵B同时扫描编码单元的同一组位置编码信号,获得A路位置编码信号和B路位置编码信号;信号处理单元(5)包括A路信号采集模块(5‑8)、A路位置译码模块(5‑3)、B路信号采集模块(5‑9)、B路位置译码模块(5‑6)以及位置码校验模块(5‑7);线阵A获得的A路位置编码信号经由A路信号采集模块(5‑8)采集,送给A路位置译码模块(5‑3),再由A路位置译码模块(5‑3)进行位置译码并判断译码结果是否正确,如果译码结果正确,置A路译码正确标志,反之,置A路译码错误标志;线阵B获得的B路位置编码信号经由B路信号采集模块(5‑9)采集,送给B路位置译码模块(5‑6),再由B路位置译码模块(5‑6)进行位置译码并判断译码结果是否正确,如果译码结果正确,置B路译码正确标志,反之,置B路译码错误标志;位置码校验模块(5‑7)对A路和B路译码结果进行校验,如果二者都正确或者只有A路正确,取A路译码结果为最终位置数据;只有B路正确,取B路译码结果为最终位置数据。
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号