| 摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Verwendung einer Flächenlichtquelle (100; 200; 300) zur Auflichtbeleuchtung in einem Mikroskop zur Betrachtung einer Probe (1) in dem Mikroskop (10), wobei die Flächenlichtquelle (100; 200; 300) einen plattenförmigen Lichtleiter (110; 210; 310) mit einer unteren Grenzfläche (111), einer oberen Grenzfläche (112) und wenigstens einer Seitenfläche (113–116) sowie wenigstens ein Leuchtmittel (120, 122) aufweist, das so angeordnet ist, dass es Licht (130) so über wenigstens eine als Lichteintrittsfläche dienende Seitenfläche in den Lichtleiter (110; 210; 310) einstrahlt, dass dieses aufgrund von Totalreflexion im Lichtleiter (110; 210; 310) propagiert, wobei die Totalreflexion durch ein an der unteren Grenzfläche (111) des Lichtleiters (110; 210; 310) auf einer Kontaktfläche (A) anliegendes Element (140; 440) definiert gestört wird, so dass eine Auskopplung von Licht auf der oberen Grenzfläche (112) des Lichtleiters (110; 210; 310) erfolgt, wobei das die Totalreflexion störende Element (140) eine gerichtete Reflexion des im Lichtleiter (110; 210; 310) propagierenden Lichts (130) bewirkt. |
