发明名称 |
总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法,将1存储状态的数据图形同总数据版图中的ROM代码数据图形的各个存储单元的数据图形进行布尔与运算,得到总数据版图中的ROM代码数据图形的各个存储单元的解码值;将总数据版图中的ROM代码数据图形的各存储单元的解码值,同样本ROM代码数据中的相应各存储单元的原始值分别比较,得到验证结果。本发明还公开了一种总数据版图中的ROM代码数据图形的校验系统。本发明,进行一次文本比较,就可以准确验证总数据版图中的ROM代码数据图形是否正确,整个过程可以完全自动化,快速方便。 |
申请公布号 |
CN103853866A |
申请公布日期 |
2014.06.11 |
申请号 |
CN201210525187.8 |
申请日期 |
2012.12.07 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
张兴洲;倪凌云;孙长江 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
王江富 |
主权项 |
一种总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法,总数据版图中的ROM代码数据图形对应于M行存储单元,每一行对应于N个存储单元,M、N为正整数,其特征在于,总数据版图中的ROM代码数据图形的校验方法包括以下步骤:一.i=1,j=1;二、将1存储状态的数据图形,同总数据版图中的ROM代码数据图形的对应于第j行第i个存储单元的数据图形进行布尔与运算,如果总数据版图中的ROM代码数据图形的对应于第j行第i个存储单元的数据图形为1存储状态数据图形,则总数据版图中的ROM代码数据图形的第j行第i列存储单元的解码值为1,否则总数据版图中的ROM代码数据图形的第j行第i列存储单元的解码值为0;三.j自增1;如果j小于等于N,则进行步骤二,否则进行步骤四;四.i自增1,如果i小于等于M,则j赋值为1,进行步骤二,否则进行步骤五;五.输出总数据版图中的ROM代码数据图形的各存储单元的解码值。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |