发明名称 用于光纤对准基座的硅穿孔制作方法
摘要 本发明公开了一种用于光纤对准基座的硅穿孔制作方法,步骤包括:1)在硅基板背面淀积二氧化硅刻蚀停止层;2)在硅基板正面淀积二氧化硅硬掩膜;3)通过光刻和二氧化硅硬掩膜干法刻蚀定义硅穿孔的图形;4)通过高选择比各向异性干法刻蚀工艺形成倒漏斗型硅穿孔;5)去除以上各刻蚀步骤中形成的聚合物;6)湿法刻蚀去除二氧化硅膜。本发明通过高选择比的干法刻蚀工艺刻穿硅基板,在硅基板背面形成喇叭口圆孔作为光纤对准基座阵列,不仅有效减少了工艺流程,节约了成本,而且提高了良率。
申请公布号 CN103852821A 申请公布日期 2014.06.11
申请号 CN201210510461.4 申请日期 2012.12.03
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 吴智勇;刘鹏;袁苑
分类号 G02B6/13(2006.01)I 主分类号 G02B6/13(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 刘昌荣
主权项 用于光纤对准基座的硅穿孔制作方法,其特征在于,步骤包括:1)在硅基板背面淀积一层二氧化硅刻蚀停止层;2)在硅基板正面淀积一层二氧化硅硬掩膜;3)通过光刻和二氧化硅硬掩膜干法刻蚀定义硅穿孔的图形;4)通过高选择比各向异性干法刻蚀工艺形成倒漏斗型硅穿孔;5)去除以上各刻蚀步骤中形成的聚合物;6)湿法刻蚀去除二氧化硅膜。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号