发明名称 一种天线罩瞄准误差及误差斜率控制方法
摘要 本发明属于主动雷达导引技术,涉及一种对导引头天线罩瞄准误差斜率(BSS)进行修正的测试及实现方法。本发明将天线罩模具上的石英纤维壳体切割分离成环带。然后在被测标准罩上逐个加载介质环,测量加载有介质环的天线罩的BSS曲线,与不加载介质环的标准罩测试曲线相比较,得到介质环对天线罩BSS的影响效应。将每个介质环的加载效应与相同位置的壁厚减薄效应相对应,得出介质环相应位置的壁厚减薄影响效应,从而可以方便地预测出天线罩某个套环位置进行局部厚度减薄后的电性能变化规律。通过数据分析及优化,在天线罩相应位置选取合适的减薄量,可以得出降低天线罩BSS的壁厚修磨方案。按照修磨方案,对天线罩内壁局部开槽,实现降低天线罩瞄准误差斜率。<pb pnum="1" />
申请公布号 CN106508079B 申请公布日期 2014.06.11
申请号 CN201010051469.X 申请日期 2010.11.29
申请人 中国空空导弹研究院 发明人 宋银锁;赵利强;侯瑞;沈康;刘谊
分类号 H01Q1/42(2006.01)I 主分类号 H01Q1/42(2006.01)I
代理机构 中国航空专利中心 11008 代理人 杜永保
主权项 一种天线罩瞄准误差斜率修正方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一.制作介质环(1).先制作天线罩模具,在模具上加工介质壳体;(2).将壳体切割分离成切割环带,制作一组介质环;步骤二.介质环加载试验(1).标准罩测试选取一个试验用标准罩,测试其BSS曲线,(2).加载介质环测试在标准罩上加载介质环,重复测试加载不同介质环时的天线罩BSS曲线,步骤三.计算套环加载效应,将加载各介质环的测试曲线与标准罩测试曲线相减,得出各介质环对天线罩BSS影响曲线;步骤四.推导壁厚局部减薄效应,将介质环对天线罩BSS影响曲线取相反值,得出在各介质环位置的罩壁厚度减薄δ后的影响效应;步骤五.导入壁厚局部减薄效应数据,寻找合适的减薄量,使修正后的瞄准误差及误差斜率最小,即找到BSS的最小值BSS<sub>min</sub>;按照以下公式完成修磨方案的计算:BSS<sub>min</sub>=BSS+N1*BSS(L1)+N2*BSS(L2)+…+Nn*BSS(Ln),N1、N2、…、Nn为在加载1#、2#、…、n#介质环位置壁厚减薄系数,N取值为:O≤N≤N<sub>max</sub>,N<sub>max</sub>为允许的最大减薄量;步骤六.确定修磨量,根据各切割环带位置以及对应的壁厚减薄系数确定各介质环位置处的减薄量δ<sub>n</sub>,其中:δ<sub>1</sub>=N1*δ、δ<sub>2</sub>=N2*δ、…、δ<sub>n</sub>=Nn*δ,δ为介质环厚度;步骤七.修磨,先在天线罩上找到第n#切割环带,在该切割环带上边沿和下边沿之间去除δ<sub>n</sub>的减薄量,其中,槽底部与罩壁内表面的过渡段W=3~8mm;步骤八.测试已修磨天线罩,测出修磨后的误差斜率曲线BSS<sub>after</sub>,判断BSS<sub>after</sub>是否满足指标要求,如合格则完成此项工序;如不合格,则重复以上方法,直到BSS<sub>after</sub>合格为止。
地址 471009 河南省洛阳市西工区解放路166号
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