| 发明名称 | 测试装置与其相关测试方法 | ||
| 摘要 | 一种测试方法，用来测试待测装置，该测试方法包含有下列步骤：将该待测装置放置于电场内；提供供应电源来启动该待测装置；以及对已启动且放置于该电场内的该待测装置的至少一个金属测点输入测试信号，来对该待测装置进行测试。本发明还提供一种测试装置。 | ||
| 申请公布号 | CN102375100B | 申请公布日期 | 2014.06.11 |
| 申请号 | CN201010256936.2 | 申请日期 | 2010.08.17 |
| 申请人 | 奇景光电股份有限公司 | 发明人 | 陈东旸;骆宏明 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/12(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 陈松涛;韩宏 |
| 主权项 | 一种测试电子产品的过度电性应力的方法，用来测试待测装置，包含有：将该待测装置放置于电场内，以使得该待测装置内累积一定程度的电荷；提供供应电源来启动该待测装置；以及对已启动且放置于该电场内的该待测装置的至少一个金属测点输入测试信号，来对该待测装置进行测试，其中将该待测装置放置于该电场内的步骤在提供该供应电源来启动该待测装置的步骤之前执行。 | ||
| 地址 | 中国台湾台南县 | ||