发明名称 可变阻抗存储元件的接触结构与方法
摘要 存储元件可以包括:开口,其在至少一个绝缘层上,该绝缘层形成于蚀刻停止层上,该开口在其底部暴露第一电极部分和所述蚀刻停止层;第二电极部分,在所述开口的至少侧表面上形成,并接触第一电极部分,第二电极部分不填充所述开口,并且基本上不形成于至少一层绝缘层的顶部表面上;至少一个存储层,形成于至少一个绝缘层顶部表面并与第二电极部分接触,所述至少一个存储层可以在至少两个阻抗状态之间可逆地可编程。还公开了形成这样的存储元件的方法。
申请公布号 CN103858170A 申请公布日期 2014.06.11
申请号 CN201280023443.1 申请日期 2012.06.25
申请人 ADESTO技术公司 发明人 C·格帕兰
分类号 G11C11/34(2006.01)I 主分类号 G11C11/34(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 何焜
主权项 一种存储元件,包括: 开口,其形成在至少一个绝缘层内,绝缘层形成于蚀刻停止层上,所述开口在其底部暴露第一电极部分和所述蚀刻停止层; 第二电极部分,在所述开口的至少一个侧表面上形成,并且不在所述至少一个绝缘层的顶部表面的上方形成,第二电极部分接触第一电极部分;以及 至少一个存储层,形成于至少一个绝缘层的顶部表面上并与第二电极部分接触,所述至少一个存储层可以在至少两个阻抗状态之间可逆地可编程。 
地址 美国加利福尼亚州