发明名称 透光性导电性膜、其制造方法及其用途
摘要 本发明涉及一种透光性导电性膜,其含有:(A)透光性支持层、(B)光学调整层及(C)含有氧化铟锡的透光性导电层,所述光学调整层(B)直接或经由一层以上的其它层配置于所述透光性支持层(A)的至少一面上,且所述透光性导电层(C)至少经由光学调整层(B)配置于所述透光性支持层(A)的至少一面上,其特征在于,所述光学调整层(B)含有氧化锆,且厚度为0.4~3μm,且在采用薄膜法的XRD测定中,源自氧化锆的2θ=28°附近的峰值相对于源自氧化铟锡的(222)面的峰值之比为0.1~1.0。
申请公布号 CN103858182A 申请公布日期 2014.06.11
申请号 CN201380003369.1 申请日期 2013.03.22
申请人 积水纳米涂层科技有限公司;积水化学工业株式会社 发明人 滝泽守雄;白木真司;泽田石哲郎;田中治;林秀树;中谷康弘
分类号 H01B5/14(2006.01)I;B32B9/00(2006.01)I;G06F3/041(2006.01)I 主分类号 H01B5/14(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 张涛
主权项 一种透光性导电性膜,其包含:(A)透光性支持层;(B)光学调整层;及(C)含有氧化铟锡的透光性导电层,所述光学调整层(B)直接或隔着一层以上的其它层配置于所述透光性支持层(A)的至少一面上,并且,所述透光性导电层(C)至少隔着光学调整层(B)配置于所述透光性支持层(A)的至少一面上,其中,所述光学调整层(B)含有氧化锆,且厚度为0.4~3μm,并且,在采用薄膜法进行的XRD测定中,源自氧化锆的2θ=28°附近的峰值与源自氧化铟锡的(222)面的峰值之比为0.1~1.0。
地址 日本爱知县