发明名称 一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统及其测试方法
摘要 一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统,包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台,所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接,ZigBee测试仪通过GPIB总线或网络接口与测试系统平台连接。测试方法包括如下步骤:(1)加载项目配置文件,将待测ZigBee DUT的测量项目和测试环境配置参数导入测试系统平台中;(2)自动控制ZigBee测试仪与待测ZigBee DUT进行通信;(3)自动控制ZigBee测试仪进行指定测量项目的测量,读取并实时显示测试结果;(4)测量结束后,将测量结果保存。本发明的有益效果:利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试,使用方便,能提高ZigBee设备研发与生产的进度,系统形成后无需人为参于,可以节约更多的人力成本。
申请公布号 CN103856277A 申请公布日期 2014.06.11
申请号 CN201410111413.7 申请日期 2014.03.24
申请人 武汉威士讯信息技术有限公司 发明人 张家平;姚僖
分类号 H04B17/00(2006.01)I 主分类号 H04B17/00(2006.01)I
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人 苏敏
主权项 一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统,其特征在于:包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台,所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接,ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接,所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成,电源给背板供电,存储单元通过CF插槽插在控制器上,控制器通过PXI接口插在背板上,键盘通过USB接口连接在控制器上,显示器通过VGA接口连接在控制器上,测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。
地址 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东园路2-2号光谷国际商会大厦B座1210