发明名称 |
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统及其测试方法 |
摘要 |
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统,包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台,所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接,ZigBee测试仪通过GPIB总线或网络接口与测试系统平台连接。测试方法包括如下步骤:(1)加载项目配置文件,将待测ZigBee DUT的测量项目和测试环境配置参数导入测试系统平台中;(2)自动控制ZigBee测试仪与待测ZigBee DUT进行通信;(3)自动控制ZigBee测试仪进行指定测量项目的测量,读取并实时显示测试结果;(4)测量结束后,将测量结果保存。本发明的有益效果:利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试,使用方便,能提高ZigBee设备研发与生产的进度,系统形成后无需人为参于,可以节约更多的人力成本。 |
申请公布号 |
CN103856277A |
申请公布日期 |
2014.06.11 |
申请号 |
CN201410111413.7 |
申请日期 |
2014.03.24 |
申请人 |
武汉威士讯信息技术有限公司 |
发明人 |
张家平;姚僖 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
代理人 |
苏敏 |
主权项 |
一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统,其特征在于:包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台,所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接,ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接,所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成,电源给背板供电,存储单元通过CF插槽插在控制器上,控制器通过PXI接口插在背板上,键盘通过USB接口连接在控制器上,显示器通过VGA接口连接在控制器上,测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东园路2-2号光谷国际商会大厦B座1210 |