发明名称 Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung
摘要 Eine Halbleitervorrichtung umfasst einen Transistor (200), der in einem Halbleitersubstrat (100) mit einer ersten Hauptoberfläche (110) ausgebildet ist. Der Transistor (200) umfasst einen Sourcebereich (201), einen Drainbereich (205), einen Kanalbereich (220), eine Driftzone (260) und eine Gateelektrode (210), die benachbart zu dem Kanalbereich (220) ist. Die Gateelektrode (210) ist gestaltet, um eine Leitfähigkeit eines in dem Kanalbereich (220) gebildeten Kanals zu steuern, wobei der Kanalbereich (220) und die Driftzone (260) längs einer ersten Richtung zwischen dem Sourcebereich (201) und dem Drainbereich (205) angeordnet sind, wobei die erste Richtung parallel zu der ersten Hauptoberfläche (110) ist. Der Kanalbereich (220) hat eine Gestalt eines ersten Kammes bzw. Grates, der sich längs der ersten Richtung erstreckt, und der Transistor umfasst eine erste Feldplatte (250), die benachbart zu der Driftzone (260) angeordnet ist.
申请公布号 DE102013113284(A1) 申请公布日期 2014.06.05
申请号 DE201310113284 申请日期 2013.11.29
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 MEISER, ANDREAS;SCHLÖSSER, TILL
分类号 H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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