发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Proben
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Untersuchung einer Probe mit von einer Neutronen- oder Röntgenstrahlungsquelle (0) emittierter Strahlung (8), die über zumindest eine strahlformende Einheit, zu der von einem Probenhalter (7) getragenen Probe (3) geführt und mit einem Detektor (5) detektiert und in einer Auswerteeinheit (30) ausgewertet wird. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass vor Beginn der Untersuchung der Probe zumindest eine der folgenden Komponenten, nämlich Strahlenquelle (0) und/oder strahlformende Einheit (1, 2) und/oder Probenhalter (7) und/oder Detektor (5) und/oder gegebenenfalls ein dem Detektor (5) vorgeordneter Primärstrahlenfänger (4), relativ gegenüber zumindest einer der anderen Komponenten (0, 1, 2, 4, 5, 7) und/oder bezüglich eines vorgegebenen Fixpunktes und/oder bezüglich dem Strahlengang (9) mit einer Steuereinheit (6) über Stellantriebe (11) ausgerichtet und/oder bezüglich ihrer räumlichen Lage eingestellt wird, wobei zur Erstellung einer von der Steuereinheit (6) an die Regelkreise der den jeweiligen Komponenten (0, 1, 2, 4, 5, 7) zugeordneten Stellantriebe (11) abgegebenen Stellgröße, die vom Detektor (5), insbesondere die in zumindest einem vorgegebenen Detektorbereich, gemessene Strahlungsintensität und/oder ein davon abgeleiteter Wert herangezogen wird.
申请公布号 DE102013112736(A1) 申请公布日期 2014.06.05
申请号 DE201310112736 申请日期 2013.11.19
申请人 ANTON PAAR GMBH 发明人 GAUTSCH, JOSEF;SCHNABLEGGER, HEIMO;GIGERL, WOLFGANG
分类号 G01N23/201;G21K1/02 主分类号 G01N23/201
代理机构 代理人
主权项
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