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Ein intelligentes Speichersystem enthält vorzugsweise einen Speicher mit einem oder mehreren Speicherchips und einen Prozessor mit einem oder mehreren Speicher-Prozessorchips. Das System kann eine intelligente Speicher-Steuervorrichtung enthalten, welche in der Lage ist, einen eingebauten Bitfehlerraten-Selbsttest durchzuführen. Die intelligente Speicher-Steuervorrichtung kann eine Bitfehlerraten-Steuervorrichtungslogik enthalten, welche derart konfiguriert ist, dass diese den eingebauten Bitfehlerraten-Selbsttest steuert. Ein Schreibe-Fehlerraten-Testmuster-Generator kann für den eingebauten Bitfehlerraten-Selbsttest ein Schreibefehler-Testmuster erzeugen. Ein Lese-Fehlerraten-Testmuster-Generator kann für den eingebauten Bitfehlerraten-Selbsttest ein Lesefehler-Testmuster erzeugen. Die intelligente Speicher-Steuervorrichtung kann intern ein Fehlerraten-Zeitmuster erzeugen, einen eingebauten Selbsttest durchführen, die sich ergebende Fehlerrate messen, basierend auf der gemessenen Fehlerrate einen oder mehrere Testparameter automatisch anpassen und den eingebauten Selbsttest unter Verwendung der angepassten Parameter wiederholen. |
