发明名称 载波抑制光发生装置
摘要 通过本发明,在调制载波光而发生边带光时,可以通过简单的构成抑制载波光。本发明的载波抑制光发生装置具有将所输入的载波光分支成两束的第1分支构件、对分支的一束载波光进行调制而输出包含边带光的光的光调制器、对分支的另一束载波光进行相位调制的相位调制器、以及将光调制器的输出光分支成两束的第2或第3分支构件。通过将由第2或第3分支构件分支的输出光和相位调制器的输出光合波,求出光功率的时间波形的振幅,以使其值最小的方式控制光调制器。
申请公布号 CN103842895A 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201280048152.8 申请日期 2012.09.28
申请人 住友大阪水泥股份有限公司 发明人 坂井猛;牟礼胜仁;市川润一郎
分类号 G02F1/035(2006.01)I;H04B10/516(2013.01)I 主分类号 G02F1/035(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 权太白;谢丽娜
主权项 一种载波抑制光发生装置,其特征在于,具备:第1分支构件,将所输入的载波光分支成1A及1B两束;光调制器,对上述分支的一束载波光1A进行调制而输出包含边带光的光;相位调制器,对上述分支的另一束载波光1B进行相位调制;第2分支构件,将上述光调制器的输出光分支成2A及2B两束;第3分支构件,将上述第2分支构件的一束输出光2A分支成3A及3B两束;合波构件,将上述第3分支构件的一束输出光3B和上述相位调制器的输出光合波;第1光检测构件,检测上述合波构件的输出光;第2光检测构件,检测上述第2分支构件的另一束输出光2B;和控制构件,以使由上述第1光检测构件检测的光功率的时间波形的振幅最小、且由上述第2光检测构件检测的光功率的平均值最大的方式控制上述光调制器。
地址 日本东京都