发明名称 | 透射型光学元件分层相位成像的装置和方法 | ||
摘要 | 一种透射型元件分层相位成像的装置和方法,该装置由相干光源、扩束器、会聚透镜、待测光学元件、二维电动平移台、探测器和计算机组成,本发明相干光源发出的准平行光经过会聚透镜后形成的会聚球面波作为待测光学元件的照明光,在计算机的控制下驱动二维电动平移台移动待测光学元件,并在待测光学元件后一定距离处用探测器记录待测光学元件在不同位置时的衍射光斑,通过计算机处理获得待测光学元件各层的复振幅透过率函数及各层的相位。而且测量过程中不会对光学元件的结构造成任何破坏。 | ||
申请公布号 | CN103837325A | 申请公布日期 | 2014.06.04 |
申请号 | CN201410064172.5 | 申请日期 | 2014.02.25 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 王海燕;刘诚;潘兴臣;孙美智;程君;朱健强 |
分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 张泽纯 |
主权项 | 一种透射型光学元件分层相位成像的装置,其特征在于:该装置由相干光源(1)、扩束器(2)、会聚透镜(3)、待测光学元件(4)、二维电动平移台(5)、探测器(6)、计算机(7)组成,上述元件的位置关系如下:沿相干光源(1)发出的波长为λ的光依次经过扩束器(2)、会聚透镜(3)后变为球面波,球面波照射待测光学元件(4),所述的待测光学元件(4)置于二维电动平移台(5)上并在垂直于光路方向进行逐行逐列扫描,所述的探测器(6)记录照明光经过待测光学元件后的衍射光斑分布,所述的探测器(6)输出端与所述的计算机(7)的输入端相连,计算机(7)的输出端与所述的二维电动平移台(5)的控制端相连。 | ||
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