| 发明名称 | 一种实现低压供电芯片检测高电压的电路 | ||
| 摘要 | 一种实现低压供电芯片检测高电压的电路，待测信号S1通过电阻R1接三极管Q1的基极，三极管Q1的基极同时通过电阻R2接地，三极管Q1的集电极接地，发射极作为信号输出端，信号输出端通过电阻R3接VCC，本发明能够实现对待测电压的降低，保证检测芯片的安全性。<!--1--> | ||
| 申请公布号 | CN103837726A | 申请公布日期 | 2014.06.04 |
| 申请号 | CN201210488990.9 | 申请日期 | 2012.11.26 |
| 申请人 | 西安威正电子科技有限公司 | 发明人 | 李程 |
| 分类号 | G01R15/04(2006.01)I | 主分类号 | G01R15/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人 | 刘国智 |
| 主权项 | 一种实现低压供电芯片检测高电压的电路，其特征在于，待测信号S1通过电阻R1接三极管Q1的基极，三极管Q1的基极同时通过电阻R2接地，三极管Q1的集电极接地，发射极作为信号输出端，信号输出端通过电阻R3接VCC。<!--1--> | ||
| 地址 | 710077 陕西省西安市高新区锦业路69号C区1号瞪羚谷B栋6层 | ||