存储器时序参数的测量装置、方法及存储器芯片

摘要

本发明提供一种存储器时序参数的测量装置、方法及存储器芯片。本发明所提供的存储器时序参数的测量装置包括：扫描链和时钟控制模块；所述扫描链包括设置在存储器所在芯片上的多组扫描触发组，每组扫描触发组分别对应于所述存储器的一个待测端口，所述扫描触发组包括至少一个扫描触发器；多个扫描触发器串联以构成所述扫描触发组，多个扫描触发组串联以构成所述扫描链。本发明可测量获得存储器每个端口所对应的时序参数，其测量精度更高。

主权项

一种存储器时序参数的测量装置，其特征在于，包括：扫描链和时钟控制模块；其中，所述扫描链包括设置在存储器所在芯片上的至少一组扫描触发组，每组扫描触发组分别对应于所述存储器的一个待测端口，所述扫描触发组包括至少一个扫描触发器；至少一个所述扫描触发器串联以构成所述扫描触发组，至少一个所述扫描触发组串联以构成所述扫描链；所述扫描链，用于为所述存储器提供测试信号；所述测试信号，包括写配置信息和读配置信息，用于指示所述存储器根据所述写配置信息执行写操作，根据所述读配置信息执行读操作；所述时钟控制模块，分别与所述扫描链和所述存储器连接，用于为所述扫描链提供第一时钟信号，为所述存储器提供第二时钟信号，并在所述存储器执行写操作或读操作时通过调整所述第一时钟信号的捕获期与所述第二时钟信号的捕获期之间的延迟来更新所述第二时钟信号，直到所述存储器的执行时序由满足到不满足，根据调整的延迟确定所述待测端口的时序参数。