发明名称 |
一种中高压沟槽型功率器件的终端结构及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种中高压沟槽型功率器件的终端结构及其制作方法,属于半导体功率器件制备技术领域。该终端结构的终端区域至少有一个沟槽,沟槽的两侧均有表面结,靠近有源区的一侧为n型注入结,远离有源区的一侧为p型注入结,沟槽内有填充物。本发明一方面可以在保证器件具有高的击穿电压的同时,缩小了终端保护区的面积,降低了芯片制造成本;另一方面能够降低寄生电荷的影响,提高器件的可靠性。 |
申请公布号 |
CN103839978A |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201310086262.X |
申请日期 |
2013.03.18 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所;上海联星电子有限公司;江苏中科君芯科技有限公司 |
发明人 |
喻巧群;朱阳军;卢烁今;田晓丽 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京华沛德权律师事务所 11302 |
代理人 |
刘丽君 |
主权项 |
一种中高压沟槽型功率器件的终端结构,其特征在于,在功率器件的终端区域至少有一个沟槽,所述沟槽的两侧均有表面结,靠近有源区的一侧为n型注入结,远离有源区的一侧为p型注入结,所述沟槽内有填充物。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所 |