发明名称 |
低深度连接沟槽及制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种低深度连接沟槽,其采用较小的沟槽深度,并增加沟槽底部的大剂量N型注入和热过程,在沟槽填充重掺杂的N型多晶硅后,从多晶硅通过N型离子注入区形成连接N型重掺杂基板的低电阻通路。工艺完成后,较浅的沟槽可和单晶基板间有较少的失配,能降低硅片翘曲度。本发明还公开了所述低深度连接沟槽的制造方法。 |
申请公布号 |
CN103839975A |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201210488481.6 |
申请日期 |
2012.11.26 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
周正良;蔡莹;徐向明 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
丁纪铁 |
主权项 |
一种低深度连接沟槽,其特征在于:所述沟槽底部位于硅衬底上的外延层中,不深入到衬底;沟槽内填充多晶硅;沟槽底部具有离子注入区连接沟槽内的多晶硅和外延下的硅衬底。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |