发明名称 |
用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法及装置 |
摘要 |
一种用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法及装置,所述方法包括:第一探查步骤、模拟老化步骤、第二探查步骤,其中,所述第一探查步骤包括:生成原始测试数据;获取测试数据变换规则;根据所述原始测试数据和所述变换规则,生成变换后数据;将所述原始测试数据和所述变换后数据分别写入闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行;所述第二探查步骤包括:分别读取所述闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行的数据;基于从第0行和第1行读取的数据,判断所述闪存模块是否通过测试。本发明在对nvr阵列的第0行进行测试的同时,也同步对第1行进行了测试,提高了内建自测试的检测覆盖率,进而也就提高了测试准确率。 |
申请公布号 |
CN103839592A |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201410078732.2 |
申请日期 |
2014.03.05 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
任栋梁;钱亮 |
分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种用于嵌入式快闪存储器的内建自测试方法,包括:第一探查步骤、模拟老化步骤、第二探查步骤,其特征在于,所述第一探查步骤包括:生成原始测试数据;获取测试数据变换规则;根据所述原始测试数据和所述变换规则,生成变换后数据;将所述原始测试数据和所述变换后数据分别写入闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行;所述第二探查步骤包括:分别读取所述闪存模块中nvr阵列的第0行和第1行的数据;基于从第0行和第1行读取的数据,判断所述闪存模块是否通过测试。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |