发明名称 卷对卷检查设备和使用该卷对卷检查设备的检查方法
摘要 本发明提供一种卷对卷检查设备和使用该卷对卷检查设备的检查方法。所述卷对卷检查设备包括:展开单元,被构造为展开卷形物体;第一检查单元,被构造为拍摄从展开单元排出的物体的表面;第二检查单元,被构造为拍摄已穿过第一检查单元的物体的另一表面;标记单元,被构造为在已穿过第二检查单元的物体上指示标记;和缠绕单元,被构造为以卷形缠绕已穿过标记单元的物体。
申请公布号 CN103832873A 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201310586920.1 申请日期 2013.11.20
申请人 三星泰科威株式会社 发明人 禹锡夏;池帝莲;文纪相
分类号 B65H43/00(2006.01)I 主分类号 B65H43/00(2006.01)I
代理机构 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人 鲁恭诚;刘奕晴
主权项 一种卷对卷检查设备,包括:展开单元,被构造为展开卷形物体;第一检查单元,被构造为拍摄从展开单元排出的物体的表面;第二检查单元,被构造为拍摄已穿过第一检查单元的物体的另一表面;标记单元,被构造为在已穿过第二检查单元的物体上指示标记;和缠绕单元,被构造为以卷形缠绕已穿过标记单元的物体。
地址 韩国庆尚南道昌原市