发明名称 一种适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法
摘要 本发明涉及一种适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法,包括(1)分析、确定深层卤水中在提取过程中易析晶、结垢的离子;(2)向待测深层卤水中加入阻垢剂,于恒温水浴中加热浓缩,做平行样,同时做同等条件下做空白样;(3)制待测平行样,空白样同等条件下做同样处理,制得待测空白样;(4)测待测平行样、待测空白样中易析晶、结垢离子的浓度,将步骤测得的待测平行样、待测空白样中易析晶、结垢离子的浓度数据代入公式:<img file="DDA0000478525230000011.GIF" wi="200" he="88" />本发明的方法对于各深度、各矿化度的地下卤水的阻垢评价均适用,可在较短时间内有效地评价出某阻垢剂对地下卤水的阻垢效果,并且高效、准确。为阻垢剂的选择及应用提供了一种可靠有效地评价手段。
申请公布号 CN103837657A 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201410102267.1 申请日期 2014.03.18
申请人 山东大学 发明人 崔兆杰;张鑫;邵倩倩;刘丽萍;梁昱;方靖;周卜
分类号 G01N33/00(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G01N1/38(2006.01)I;G01N1/40(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I 主分类号 G01N33/00(2006.01)I
代理机构 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人 王绪银
主权项 1.一种适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法,包括如下步骤:(1)室温下,测深层卤水中离子浓度及全盐量,得初始离子浓度,采取深层卤水中的垢样,对垢样成分进行X射线衍射分析,根据分析结果,确定深层卤水中在提取过程中易析晶、结垢的离子;初始离子浓度中易析晶、结垢离子的浓度为初始易析晶、结垢离子浓度;(2)向待测深层卤水中加入阻垢剂,阻垢剂的投加量为每升待测卤水加入20~30mg的阻垢剂,然后于70~80℃的恒温水浴中加热浓缩,每隔15min取样一次,直至浓缩至含阻垢剂的深层卤水水样原体积的3/5~4/5,制得深层卤水水样浓缩液,记做平行样;取待测深层卤水,不加阻垢剂,同等条件下做空白样;(3)将步骤(2)的深层卤水水样浓缩液加水稀释500~600倍,加入浓硝酸进行消解,所述浓硝酸的加入量为稀释后深层卤水水样浓缩液体积的1/10~2/10,然后加热煮沸至水样样品透明清澈,冷却至室温后加入质量分数为2~5%的硝酸定容,制得待测平行样,空白样同等条件下做同样处理,制得待测空白样;(4)用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)分别测待测平行样、待测空白样中易析晶、结垢离子的浓度,(5)易析晶、结垢离子阻垢率η(%)的计算:将步骤(4)测得的待测平行样、待测空白样中易析晶、结垢离子的浓度数据代入公式:<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>&eta;</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><mi>Ce</mi><mo>-</mo><mi>Co</mi></mrow><mrow><mi>Cb</mi><mo>-</mo><mi>Co</mi></mrow></mfrac></mrow></math>]]></maths>式中,η为阻垢率,%;C<sub>e</sub>为待测平行样中易析晶、结垢离子浓度,mg/L,C<sub>o</sub>为待测空白样易析晶、结垢离子浓度,mg/L;Cb为初始易析晶、结垢离子浓度乘以理想浓缩倍数k理想浓缩倍数k=待测平行样中Br-浓度/初始离子Br-浓度。
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