发明名称 |
编程列串扰在线检测方法 |
摘要 |
本发明揭示了一种编程列串扰在线检测方法,首先提供一晶圆,所述晶圆上具有自对准分栅闪存单元;然后,在线检测所述自对准分栅闪存单元的关键尺寸或膜厚,判断所述自对准分栅闪存单元是否有编程列串扰问题。在本发明提供的编程列串扰在线检测方法中,不需要进行后段的工艺,直接通过在线测量所述自对准分栅闪存单元的特定参数,便可以判断所述自对准分栅闪存单元是否有编程列串扰问题,从而能提前检测出闪存单元的编程列串扰的异常情况,节约工艺步骤。 |
申请公布号 |
CN103839850A |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201410097546.3 |
申请日期 |
2014.03.17 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
张琳;李志国;黄飞;程凯 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种编程列串扰在线检测方法,包括:提供一晶圆,所述晶圆上具有自对准分栅闪存单元;在线检测所述自对准分栅闪存单元的特定参数;将所述特定参数与一标准范围进行比较,根据比较结果判断所述自对准分栅闪存单元是否有编程列串扰问题。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |