发明名称 编程列串扰在线检测方法
摘要 本发明揭示了一种编程列串扰在线检测方法,首先提供一晶圆,所述晶圆上具有自对准分栅闪存单元;然后,在线检测所述自对准分栅闪存单元的关键尺寸或膜厚,判断所述自对准分栅闪存单元是否有编程列串扰问题。在本发明提供的编程列串扰在线检测方法中,不需要进行后段的工艺,直接通过在线测量所述自对准分栅闪存单元的特定参数,便可以判断所述自对准分栅闪存单元是否有编程列串扰问题,从而能提前检测出闪存单元的编程列串扰的异常情况,节约工艺步骤。
申请公布号 CN103839850A 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201410097546.3 申请日期 2014.03.17
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 张琳;李志国;黄飞;程凯
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种编程列串扰在线检测方法,包括:提供一晶圆,所述晶圆上具有自对准分栅闪存单元;在线检测所述自对准分栅闪存单元的特定参数;将所述特定参数与一标准范围进行比较,根据比较结果判断所述自对准分栅闪存单元是否有编程列串扰问题。
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