发明名称 |
动态库性能分析方法和动态库性能分析系统 |
摘要 |
提供一种动态库性能分析方法和动态库性能分析系统,包括:将第一断点指令写入动态库函数的开始地址;记录第一事件计数值,所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数;将第二断点指令写入动态库函数的返回地址;通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值,所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数,其中,进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。 |
申请公布号 |
CN103838662A |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201310581221.8 |
申请日期 |
2013.11.19 |
申请人 |
三星电子株式会社;首尔大学校产学协力团 |
发明人 |
李敏周;伯恩哈德·艾格;李在镇;金永洛;金鸿圭;金洪准 |
分类号 |
G06F11/34(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/34(2006.01)I |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 |
代理人 |
张川绪;张云珠 |
主权项 |
一种动态库性能分析方法,包括:将第一断点指令写入动态库函数的开始地址;记录第一事件计数值,所述第一事件计数值是当目标进程执行第一断点指令时的进程性能测量单元PMU计数;将第二断点指令写入动态库函数的返回地址;通过将记录的第一事件计数值与第二事件计数值进行比较来计算在执行动态库函数时在处理器核心中产生的PMU计数值,所述第二事件计数值是当目标进程执行第二断点指令时的进程PMU计数;其中,进程PMU计数是在执行目标进程时在处理器核心中产生的PMU计数值的累加值。 |
地址 |
韩国京畿道水原市 |