| 摘要 |
Die Erfindung betrifft die elektrische Isolationsprüfung von Photovoltaikmodulen, insbesondere von Dünnfilm-Photovoltaikmodulen, bei denen stromführende Komponenten (6) auf einem plattenförmigen Substrat (5) angeordnet und im Bereich des Modulrandes (4, 35) elektrisch isoliert sind. Um die Isolationsprüfung für derartige Photovoltaikmodule zu vereinfachen, wird vorgeschlagen, dass während der Herstellung der Photovoltaikmodule eine elektrische Isolationsprüfung stattfindet, bei der mittels einer mechanischen Kontaktierungsvorrichtung eine Testspannung zwischen dem Modulrand (4, 35) einerseits und den entfernt von dem Modulrand (4, 35) nach aussen führenden elektrischen Anschlüssen (3) des Photovoltaikmoduls andererseits angelegt wird, wobei die mechanische Kontaktierungsvorrichtung einen mit wenigstens einem leistenförmigen Kontaktelement versehenen Kontaktrahmen zum Kontaktieren des Modulrandes (4, 35) aufweist. |
