用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的检测方法

摘要

本发明公开了一种用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的方法。用于检测发光二极管(LED)封装件的设备被设置为检测LED以确定其是否有缺陷，并在LED有缺陷时废弃该LED。用于检测LED封装件的设备包括：检测单元，通过视觉检测来检测LED，以确定LED是否有缺陷；缺陷产品报废单元，废弃从检测单元提供的LED中的基于检测单元的检测结果被确定为有缺陷的LED。因为检测LED和废弃缺陷LED的操作自动进行并能够作为连续工艺快速地处理，所以能够提高生产率。

主权项

一种用于检测发光二极管封装件的设备，所述设备包括：检测单元，通过视觉检测来检测发光二极管，以确定发光二极管是否有缺陷；缺陷产品报废单元，废弃从检测单元提供的发光二极管中的基于检测单元的检测结果被确定为有缺陷的发光二极管，其中，发光二极管以多行和多列布置，以构造以阵列形式连接的发光二极管集合，缺陷产品报废单元仅对发光二极管集合中的被确定为有缺陷的发光二极管进行打孔并将打孔的发光二极管废弃，缺陷产品报废单元包括被驱动为上升或下降的打孔头、安装在打孔头上以被驱动为上升或下降的多个打孔销以及在所述多个打孔销的下侧支撑发光二极管集合的打孔支撑件，所述多个打孔销被布置为与在通过特定行数沿阵列的列方向提供的发光二极管集合的单元区域内布置的发光二极管的位置对应，在打孔头执行打孔操作时，所述多个打孔销被保持为在单元区域中的提供的发光二极管中的被确定为有缺陷的发光二极管上方选择性地突出，打孔支撑件包括多个排放孔，下降的且保持突出状态的打孔销插入到多个排放孔中以排放被打孔的发光二级管。