发明名称 一种定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置
摘要 本发明公开了一种定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置,包括嵌入式控制平台、ICT测试单元、继电器阵列控制模块、用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块和夹具接口,所述嵌入式控制平台用于输入控制信号,并将控制信号发送给ICT测试单元或用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块;所述ICT测试单元通过继电器阵列控制模块、夹具接口实现与测试目标的电路连接,进行ICT测试;所述用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块通过夹具接口实现与测试目标的电路连接,进行FCT测试。本发明提供的定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置,综合FCT测试和ICT测试,降低测试的成本、提高测试的灵活性和测试效率。
申请公布号 CN103823128A 申请公布日期 2014.05.28
申请号 CN201210461517.1 申请日期 2012.11.16
申请人 苏州工业园区世纪福科技有限公司 发明人 陈飞;黄菲;李二文
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R27/14(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置,其特征在于:包括嵌入式控制平台、ICT测试单元、继电器阵列控制模块、用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块和夹具接口,所述嵌入式控制平台用于输入控制信号,并将控制信号发送给ICT测试单元或用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块;所述继电器阵列控制模块和用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块与夹具接口的对应输入端子电路连接;所述夹具接口用于夹持测试目标;所述ICT测试单元通过继电器阵列控制模块、夹具接口实现与测试目标的电路连接,对测试目标进行ICT测试,并将测试结果反馈给嵌入式控制平台;所述用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块通过夹具接口实现与测试目标的电路连接,对测试目标进行FCT测试,并将测试结果反馈给嵌入式控制平台。
地址 215121 江苏省苏州市工业园区双灯路2号12幢1-2层