发明名称 | 一种电离层侧向散射探测方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种电离层侧向散射探测方法,包括:在发射站与已知目标探测区域连线的两侧布设接收站;发射站发出无线电信号,经过电离层反射、以及所述目标探测区域散射后被接收站接收;通过分析接收站的接收信号多普勒谱图确定出含有侧向散射信号信息。本发明提供了一种新的电离层探测手段,为电离层的组网探测奠定基础。本发明可以为天波超视距雷达组网探测电离层诊断方面提供技术支撑,使天波超视距雷达组网探测发挥更大的优势,且大大缩短天波超视距雷达组网系统的研制周期。<pb pnum="1" /> | ||
申请公布号 | CN106342214B | 申请公布日期 | 2014.05.28 |
申请号 | CN201110015240.5 | 申请日期 | 2011.12.12 |
申请人 | 中国电子科技集团公司第二十二研究所 | 发明人 | 蔚娜;柳文;李铁成;李强;张长亮 |
分类号 | G01N23/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/00(2006.01)I |
代理机构 | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人 | 梁军 |
主权项 | 一种电离层侧向散射探测方法,其特征在于,包括:步骤一、在发射站与已知目标探测区域连线的两侧布设接收站;步骤二、发射站发出无线电信号,经过电离层反射、以及所述目标探测区域散射后被接收站接收;步骤三、通过分析接收站的接收信号多普勒谱图确定出含有侧向散射信号信息。 | ||
地址 | 266107 山东省青岛城阳仙山东路36号 |