发明名称 晶粒图像边缘连接方法及其装置
摘要 一种晶粒图像边缘连接方法,包括步骤:获取预存的第一晶粒二值图像数据;对所述晶粒二值图像数据进行闭运算,获得0度方向、45度方向、90度方向和135度方向均不存在断点的第二晶粒二值图像数据;对所述第二晶粒二值图数据进行膨胀运算,获得不存在断点的第三晶粒二值图像数据;对所述第三晶粒二值图像数据进行腐蚀运算,获得第四晶粒二值图像数据;对所述第三晶粒二值图像数据进行腐蚀运算,获得第五晶粒二值图像数据;对所述第四晶粒二值图像数据和第五晶粒二值图像数据进行与运算,获得边缘连接的晶粒二值图像数据;所述晶粒图像边缘连接方法的运算简单,提高了运行速度,方便实现和推广。本发明还提供一种晶粒图像边缘连接装置。
申请公布号 CN103824268A 申请公布日期 2014.05.28
申请号 CN201410045812.8 申请日期 2014.02.08
申请人 江西赛维LDK太阳能高科技有限公司 发明人 刘俊;李松林;黄雪雯
分类号 G06T5/30(2006.01)I 主分类号 G06T5/30(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 郝传鑫;熊永强
主权项 一种晶粒图像边缘连接方法,其特征在于,包括步骤:获取预存的第一晶粒二值图像数据;通过用0度方向的线段二值图像数据、45度方向的线段二值图像数据、90度方向的线段二值图像数据和135度方向的线段二值图像数据对所述晶粒二值图像数据进行闭运算,获得0度方向、45度方向、90度方向和135度方向均不存在断点的第二晶粒二值图像数据;通过用L×L的方形二值图像数据对所述第二晶粒二值图数据进行膨胀运算,获得不存在断点的第三晶粒二值图像数据;通过用0度方向长L的线段二值图像数据对所述第三晶粒二值图像数据进行腐蚀运算,获得第四晶粒二值图像数据,所述第四晶粒二值图像面积小于所述第三晶粒二值图像面积;通过用90度方向长L的线段二值图像数据对所述第三晶粒二值图像数据进行腐蚀运算,获得第五晶粒二值图像数据,所述第五晶粒二值图像面积小于所述第三晶粒二值图像面积;通过对所述第四晶粒二值图像数据和第五晶粒二值图像数据进行与运算,获得边缘连接的晶粒二值图像数据。
地址 338000 江西省新余市高新经济开发区赛维工业园专利办公室