| 摘要 |
Abtasteinheit zum Abtasten einer Maßverkörperung, die eine durch eine Messteilung gebildete Codespur, insbesondere in Form einer Inkrementalspur, und zusätzlich zu der Codespur eine Referenzmarkenanordnung aufweist, mit–einer Detektoranordnung zum Abtasten der Codespur und–einer weiteren Detektoranordnung zum Abtasten der Referenzmarkenanordnung, wobei die weitere Detektoranordnung beim Abtasten der Referenzmarkenanordnung auf einer signalempfindlichen Oberfläche Abtastsignale empfängt und hierzu mindestens zwei Sensoren umfasst, von denen im Betrieb der Abtasteinheit nur einer zum Abtasten der Referenzmarkenanordnung verwendet wird, dadurch gekennzeichnet, dass jeder der beiden Sensoren (11, 12) jeweils über eine Verbindungsleitung (31, 32) an einen der beiden Eingänge (21, 22) eines Differenzverstärkers (2) angeschlossen ist und dass der nicht zum Abtasten verwendete Sensor (12, 11) dadurch deaktiviert ist, dass seine signalempfindliche Oberfläche (12a, 11a) mittels einer Blende (3) der Abtasteinheit (1) abgedeckt ist, wodurch an den Sensoren (11, 12) und den Verbindungsleitungen (31, 32) auftretende elektrische Störungen durch Differenzbildung im Differenzverstärker (2) unterdrückt werden. |
