发明名称 Verbesserung der Umverdrahtungsschicht zum Steigern der Funktionssicherheit von Wafer Level Packaging
摘要 Wafer Level Package mit: einem Chip mit einer ersten Seite und einer zweiten Seite; einer Anordnung von Lötstellen auf der ersten Seite des Chips, wobei die Anordnung in Reihen und Spalten vorliegt; einer Umverdrahtungsschicht (Redistribution Layer; RDL) mit einer RDL-Pad-Stelle an jeder Lötstelle, wobei jede RDL-Pad-Stelle einen Pad-Durchmesser hat; und wobei Eck-RDL-Pad-Stellen, die mit Eck-Lötstellen der Anordnung zusammenfallen, eine erweiterte RDL-Geometrie aufweisen; wobei jede erweiterte RDL-Geometrie im Wesentlichen um eine Linie zentriert ist, die sich radial von einer Mittelstelle auf der ersten Seite durch eine Mittelstelle der Lötstelle, die damit zusammenfällt, erstreckt.
申请公布号 DE112010004342(B4) 申请公布日期 2014.05.22
申请号 DE20101104342T 申请日期 2010.11.10
申请人 MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC. 发明人 ZHOU, TIAO;KHANDEKAR, VIREN;RAHIM, KAYSAR S.;SAMOILOV, ARKADII;XU, YONG LI
分类号 H01L23/488;H01L21/60;H01L23/50;H01L23/52 主分类号 H01L23/488
代理机构 代理人
主权项
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