发明名称 |
Verbesserung der Umverdrahtungsschicht zum Steigern der Funktionssicherheit von Wafer Level Packaging |
摘要 |
Wafer Level Package mit: einem Chip mit einer ersten Seite und einer zweiten Seite; einer Anordnung von Lötstellen auf der ersten Seite des Chips, wobei die Anordnung in Reihen und Spalten vorliegt; einer Umverdrahtungsschicht (Redistribution Layer; RDL) mit einer RDL-Pad-Stelle an jeder Lötstelle, wobei jede RDL-Pad-Stelle einen Pad-Durchmesser hat; und wobei Eck-RDL-Pad-Stellen, die mit Eck-Lötstellen der Anordnung zusammenfallen, eine erweiterte RDL-Geometrie aufweisen; wobei jede erweiterte RDL-Geometrie im Wesentlichen um eine Linie zentriert ist, die sich radial von einer Mittelstelle auf der ersten Seite durch eine Mittelstelle der Lötstelle, die damit zusammenfällt, erstreckt. |
申请公布号 |
DE112010004342(B4) |
申请公布日期 |
2014.05.22 |
申请号 |
DE20101104342T |
申请日期 |
2010.11.10 |
申请人 |
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS, INC. |
发明人 |
ZHOU, TIAO;KHANDEKAR, VIREN;RAHIM, KAYSAR S.;SAMOILOV, ARKADII;XU, YONG LI |
分类号 |
H01L23/488;H01L21/60;H01L23/50;H01L23/52 |
主分类号 |
H01L23/488 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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