发明名称 集成续流二极管的功率半导体器件
摘要 本实用新型提供了一种集成续流二极管的功率半导体器件,该器件包括:具有第一掺杂类型的半导体衬底,具有相对的正面和背面,作为IGBT器件的场截止区;位于半导体衬底正面上的外延层,外延层的背面与半导体衬底的正面贴合,外延层具有第一掺杂类型,外延层作为IGBT器件的漂移区;IGBT器件的基区、发射区、栅介质层和栅极,形成于外延层的正面,基区具有第二掺杂类型,发射区具有第一掺杂类型,第一掺杂类型和第二掺杂类型相反;具有第二掺杂类型的集电区,位于场截止区的背面;具有第一掺杂类型的二极管接触区,位于场截止区的背面。本实用新型的功率半导体器件具有开关安全工作区宽、鲁棒性强以及制造成本低等优点。
申请公布号 CN203607411U 申请公布日期 2014.05.21
申请号 CN201320773149.4 申请日期 2013.11.27
申请人 杭州士兰集成电路有限公司 发明人 顾悦吉;闻永祥;刘琛;刘慧勇
分类号 H01L27/06(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/08(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I;H01L21/8222(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I 主分类号 H01L27/06(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 张振军
主权项 一种集成续流二极管的功率半导体器件,其特征在于,包括: 具有第一掺杂类型的半导体衬底,所述半导体衬底具有相对的正面和背面,所述半导体衬底作为IGBT器件的场截止区; 位于所述半导体衬底正面上的外延层,所述外延层的背面与所述半导体衬底的正面贴合,所述外延层具有第一掺杂类型,所述外延层作为IGBT器件的漂移区; IGBT器件的基区、发射区、栅介质层和栅极,形成于所述外延层的正面,所述基区具有第二掺杂类型,所述发射区具有第一掺杂类型,所述第一掺杂类型和第二掺杂类型相反; 具有第二掺杂类型的集电区,位于所述场截止区的背面; 具有第一掺杂类型的二极管接触区,位于所述场截止区的背面。 
地址 310012 浙江省杭州市(下沙)经济技术开发区东区10号路308号
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