发明名称 一种在硅基工艺上制作光纤对准基座阵列的方法
摘要 本发明公开了一种在硅基工艺上制作光纤对准基座阵列的方法,包括如下步骤:1.在光刻版上画出光纤对准基座所需的通孔阵列和尺寸;2.在硅晶圆正面生长一层氧化硅薄膜;3.在硅晶圆正面涂上光刻胶,并用光纤对准基座的光刻版曝光显影阵列孔图形;4.刻蚀氧化硅薄膜作为硬质掩膜层;5.刻蚀硅深孔,刻蚀停止在硅晶圆内;6.去除刻蚀残留的光刻胶和刻蚀反应聚合物;7.刻蚀硅晶圆正面和背面残留的氧化硅薄膜;8.在硅晶圆正面贴上蓝膜,保护正面图形;9.背面研磨硅深孔刻蚀残留的硅,直到硅通孔形成;10.撕除蓝膜撕除。本发明通过刻蚀硅通孔与背面研磨相结合,既降低硅通孔刻蚀难度,同时避免刻蚀硅通孔带来的额外费用,减少了工艺成本,提高了工艺效率。
申请公布号 CN103809241A 申请公布日期 2014.05.21
申请号 CN201210454065.4 申请日期 2012.11.13
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 袁苑;郁新举;吴智勇
分类号 G02B6/13(2006.01)I 主分类号 G02B6/13(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 王函
主权项 一种在硅基工艺上制作光纤对准基座阵列的方法,其特征在于,包括如下步骤:1.1在光刻版上画出光纤对准基座所需要的通孔阵列和尺寸;1.2在硅晶圆的正面生长一层氧化硅薄膜;1.3在生长完氧化硅薄膜的硅晶圆正面涂上光刻胶,并用光纤对准基座的光刻版曝光显影出阵列孔图形;1.4在干法刻蚀机台中刻蚀氧化硅薄膜作为硬质掩膜层;1.5在硅干法刻蚀机台中刻蚀硅深孔,刻蚀停止在硅晶圆内;1.6在去胶机台中去除刻蚀残留的光刻胶和刻蚀反应聚合物;1.7在湿法酸槽中刻蚀硅晶圆正面和背面残留的氧化硅薄膜;1.8在硅晶圆正面贴上蓝膜,保护正面图形;1.9在背面研磨机台上研磨硅深孔刻蚀残留的硅,直到硅通孔形成;1.10将硅晶圆正面的蓝膜撕除,工艺完成。
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