集成电路单粒子效应检测装置和系统

摘要

一种集成电路单粒子效应检测装置和系统，其中装置包括：检测控制器、真空密封腔的转接头、连接线缆、接口板；所述检测控制器的信号通道通过连接线缆与所述真空密封腔的转接头外侧连接，所述真空密封腔的转接头内侧通过连接线缆与所述接口板连接，所述接口板设于真空密封腔内；所述接口板用于连接待测集成电路；所述真空密封腔的转接头，用于隔离外界大气压，并传输检测控制器和待测集成电路之间的信号；所述检测控制器，用于检测待测集成电路是否发生单粒子效应。本发明方案提高了检测效率，降低了成本。

主权项

一种集成电路单粒子效应检测装置，其特征在于，包括：检测控制器、真空密封腔的转接头、连接线缆、接口板；所述检测控制器的信号通道通过连接线缆与所述真空密封腔的转接头外侧连接，所述真空密封腔的转接头内侧通过连接线缆与所述接口板连接，所述接口板设于真空密封腔内；所述接口板用于连接待测集成电路；所述真空密封腔的转接头，用于隔离外界大气压，并传输检测控制器和待测集成电路之间的信号；所述检测控制器，用于根据待测集成电路的功能采用电子设计自动化技术建立仿真模型；根据仿真模型的功能获取仿真向量，并将各仿真向量按照预设规则进行切割获得对应的测试激励和响应期望值；实时获取待测集成电路的电流并与阈值比较，判断是否发生闩锁，当没有发生闩锁时向待测集成电路发送测试激励；获取待测集成电路的响应数据，将待测集成电路的响应数据与对应响应期望值对比，确定待测集成电路是否发生单粒子效应。