发明名称 一种光刻机水平测量装置及测量方法
摘要 本发明提供了一种光刻机水平测量装置,包括:容器瓶,所述容器瓶中装有液体;容器塞,所述容器塞嵌入所述容器瓶的瓶口,所述容器塞上设有通孔;柔性导管,所述柔性导管通过所述通孔从所述容器塞中引出;所述柔性导管中有液柱;导管塞,所述导管塞设于所述柔性导管的引出端的尾部;测量装置,所述测量装置设于所述柔性导管的引出端。本发明方便用于TFT光刻机安装时的支撑脚的垂向高度差的测量,并根据支撑脚的垂向高度差对支撑脚作水平调整,测量工作简单易行,操作方便,测量精度高。
申请公布号 CN103809383A 申请公布日期 2014.05.21
申请号 CN201210451764.3 申请日期 2012.11.12
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 王天明
分类号 G03F7/20(2006.01)I;G01C9/18(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 屈蘅;李时云
主权项 一种光刻机水平测量装置,其特征在于,包括:容器瓶,所述容器瓶中装有液体;容器塞,所述容器塞嵌入所述容器瓶的瓶口,所述容器塞上设有通孔;柔性导管,所述柔性导管通过所述通孔从所述容器塞中引出;所述柔性导管中充有连续的液体;导管塞,所述导管塞设于所述柔性导管的引出端的尾部;测量装置,所述测量装置设于所述柔性导管的引出端。
地址 201203 上海市浦东新区张东路1525号