发明名称 |
一种散斑图像匹配中测度函数改进方法 |
摘要 |
本发明涉及光学测量、图像匹配领域,特别是涉及一种散斑图像匹配中测度函数改进方法。现有的测度函数很多都涉及“去均值”运算,在运算中具有将f和g的均值<f>和<g>减去的环节,将这些涉及去均值运算的公式做以下改进:在T中截取一子域g′,g′包含g,计算g′的均值,记为<g′>,在测度函数中用<g′>替换<g>可明显提高图像匹配精度。 |
申请公布号 |
CN103810501A |
申请公布日期 |
2014.05.21 |
申请号 |
CN201410088952.3 |
申请日期 |
2014.03.12 |
申请人 |
中国矿业大学(北京) |
发明人 |
孙继平;洪亮 |
分类号 |
G06K9/62(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06K9/62(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种散斑图像匹配中测度函数改进方法,设I为原始图像,f为所述原始图像中截取的图像模板,T为目标图像,g为所述目标图像中截取的目标子域,在将所述图像模板f和目标子域g比较时,对应点处的灰度值分别为f(i,j)和g(i+u,j+v),(u,v)为g与f的像间相对位移矢量,相应地将g表示为g<sub>(u,v)</sub>,根据相应的相关算法,计算g与f的相关测度,记作C(u,v),当(u,v)为变量时,函数C(u,v)称为相关测度函数,简称测度函数,所述的测度函数包括“去均值”运算,在所述的“去均值”运算中包括将f和g的均值<f>和<g>减去的环节,其特征在于:该方法将所述的“去均值”运算做以下改进:在所述的目标图像T中截取第二子域g′,g′包含g,计算g′的均值,记为<g′>,在测度函数中用<g′>替换<g>。 |
地址 |
100083 北京市海淀区学院路丁11号中国矿业大学(北京) |