| 发明名称 | 一种可靠性预计算法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种可靠性预计算法，包括以下步骤：分别计算器件单粒子效应SEE、总剂量效应TID和位移损伤效应DD引起的失效率λ<sub>SEE</sub>、λ<sub>TID</sub>和λ<sub>DD</sub>；根据公式λ<sub>space</sub>=λ<sub>TID</sub>+λ<sub>DD</sub>+λ<sub>SEE</sub>计算空间辐射环境引起的失效率λ<sub>space</sub>；根据公式λ=λ<sub>NOspace</sub>+λ<sub>space</sub>计算器件的总失效率λ，其中λ<sub>NOspace</sub>是非空间辐射环境引起的失效率。本发明考虑了辐射应力响应，可用于航空航天辐射敏感元器件的可靠性预计；与基于常数失效率假设的可靠性预计方法相比，本发明算法的预计结果更加准确。 | ||
| 申请公布号 | CN103810368A | 申请公布日期 | 2014.05.21 |
| 申请号 | CN201210460752.7 | 申请日期 | 2012.11.15 |
| 申请人 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 发明人 | 王群勇;阳辉;陈冬梅;白桦;陈宇 |
| 分类号 | G06F19/00(2011.01)I | 主分类号 | G06F19/00(2011.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 王莹 |
| 主权项 | 一种可靠性预计算法，其特征在于，包括以下步骤：S1、分别计算器件单粒子效应SEE、总剂量效应TID和位移损伤效应DD引起的失效率λ<sub>SEE</sub>、λ<sub>TID</sub>和λ<sub>DD</sub>；S2、根据公式λ<sub>space</sub>=λ<sub>TID</sub>+λ<sub>DD</sub>+λ<sub>SEE</sub>计算空间辐射环境引起的失效率λ<sub>space</sub>；S3、根据公式λ=λ<sub>NOspace</sub>+λ<sub>space</sub>计算器件的总失效率λ，其中λ<sub>NOspace</sub>是非空间辐射环境引起的失效率。 | ||
| 地址 | 100089 北京市海淀区紫竹院路69号中国兵器大厦708室 | ||